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被測(cè)元器件上的電壓是否等于用戶設(shè)定的電壓?
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測(cè)試信號(hào)電平和被測(cè)件的簡(jiǎn)化模型如下圖:

可見被測(cè)件的測(cè)試信號(hào)電平取決于測(cè)試信號(hào)電平、LCR電橋的源內(nèi)阻和被測(cè)件阻抗的分壓,如下所示:
式中:
|Vosc| 用戶設(shè)定的信號(hào)電壓電平。
Rso LCR電橋的源電阻(目前常州致新的儀器一般都有5種內(nèi)阻模式供用戶選擇)。
|Vm| 加到被測(cè)件上的信號(hào)電壓電平
|Im| 在被測(cè)件中流過的信號(hào)電流電平
|Zx| 被測(cè)件的阻抗
 
由以上公式可知,被測(cè)件上的電壓不一定等于用戶設(shè)定的電壓。具體要根據(jù)以上公式算的。


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